Informace o projektu
Informace o projektu
Výzkum dielektrických vrstev TixSiyOz připravených plazmochemickou metodou (PECVD) pro optické a elektronické aplikace
- Kód projektu
- 7AMB15FR036
- Období řešení
- 1/2015 - 12/2016
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR
- Aktivita MOBILITY
- Fakulta / Pracoviště MU
- Středoevropský technologický institut
TiO2 thin films exhibit high dielectric constant (between 50 and 100) and optical refractive index (1.8 Počet publikací: 2 Applied Surface Science, rok: 2020, ročník: 510, vydání: April 2020, DOI Physical Review B, rok: 2017, ročník: 95, vydání: 19, DOIPublikace
2020
Unravelling local environments in mixed TiO2-SiO2 thin films by XPS and ab initio calculations
2017
Optical properties of TixSi1-xO2 solid solutions