Epitaxial Ge-crystal arrays for X-ray detection

• Název česky: Epitaxní Ge-krystalová pole pro rtg detekci
• Autoři: KREILIGER Thomas; FALUB Claudiu Valentin; ISA Fabio; ISELLA G.; CHRASTINA D.; BERGAMASCHINI R.; MARZEGALLI A.; KAUFMANN R.; NIEDERMANN P.; NEELS A.; MÜLLER E.; MEDUŇA Mojmír; DOMMANN Alex; MIGLIO Leo; VON KANEL Hans
• Rok publikování: 2014
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Instrumentation
• Fakulta / Pracoviště MU: Středoevropský technologický institut
• www: http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/03/C03019
• Doi: http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/9/03/C03019
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Materials for solid-state detectors; Solid state detectors; X-ray detectors
• Popis: Monolitická integrace rtg absorbční vrstvy na Si CMOS čipu může být potenciálně přitažlivý způsob zlepšení výkonu detektoru za přijatelných nákladů. Elektrické charakteristiky jednotlivých Ge-Si diod jsou získány z in=situ měření uvnitř skenovacího mikroskopu.

Související projekty

• Research4Industry - Budování a rozvoj vědecko-výzkumné spolupráce s výzkumnými a průmyslovými partnery