X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers

• Autoři: HOLÝ Václav; DARHUBER A.A.; STANGL J.; BAUER G.; NUTZEL J.; ABSTREITER G.
• Rok publikování: 1998
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Semicond. Sci. Technol.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: x-ray

Související projekty

• Morfologie rozhraní heteroepitaxních multivrstev