Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

• Autoři: MEDUŇA Mojmír; HOLÝ Václav; STANGL Julian
• Rok publikování: 2002
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Physica E
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers
• Popis: Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

Související projekty

• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur