Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films

• Autoři: KLAPETEK Petr; OHLÍDAL Ivan; MONTAIGNE-RAMIL Alberto; BONANNI Alberta; STIFTER David; SITTER Helmut
• Rok publikování: 2003
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Japanese Journal of Applied Physics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: ZnTe epitaxial films; AFM analysis; faceted boundaries
• Popis: In this paper, results concerning atomic force microscopy studies of the upper bounaries of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy onto gallium arsenide single crystal substrates are presented. It is sohw that the upper boundaries exhibit faceted structure which is described by means of statistical analysis.

Související projekty

• Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
• Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou