Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies

• Název česky: Drsnost rozhraní v SiGe kvantumkaskádových strukturách ze studií rtg reflektivity
• Autoři: ROCH Tomáš; MEDUŇA Mojmír; STANGL Julian; HESSE Anke; LECHNER Rainer T; BAUER Guenther; DEHLINGER G.; DIEHL L.; GENNSER U.; MÜLLER Elisabeth; GRÜTZMACHER Detlev
• Rok publikování: 2001
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Applied Physics
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: superlatitces; multilayers; scattering; quality
• Popis: Studovali jsme strukturní vlastnosti Si/SiGe elektroluminescentních kvantových kaskádových struktur pomocí rtg reflektivity a difrakce.