X-RAY LAUE DIFFRACTION STUDY OF OXYGEN PRECIPITATES IN CZOCHRALSKI SILICON

• Název česky: Studie kyslíkových precipitátů v Czochralského křemíku pomocí rtg Laueho dofrakce
• Autoři: RŮŽIČKA Jiří; MEDUŇA Mojmír
• Rok publikování: 2011
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction; statistical dynamical theory of diffraction
• Popis: V prezentovaném článku jsme studovali kyslíkové precipitáty pomocí rtg difrakce v Laueho geometrii.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
• Nukleace a růst kyslíkových precipiátů v křemíku
• Struktura, elektronová struktura a optická odezva pokročilých materiálů