prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
| telefon: | 549 49 4360 |
|---|
| sociální a akademické sítě: |
|---|
Počet publikací: 213
1997
-
Reciprocal space mapping on Si 1-x C x epilayers and Si n/C/Si n superlattices
Journal of crystal growth, rok: 1997, ročník: (19)1997, vydání: 2-4
-
Stacked Josephson junction based on Nb/Si superlattice
Low Temperature Physics, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 106
-
Strain relaxation in high electron mobility Si 1-x Ge x/Si structures
J. Appl. Phys., rok: 1997, ročník: (82)1997, vydání: 15
-
Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by X-ray diffraction techniques
Thin Solid Films, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 303
-
X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiG /Si superlattices
II Nuovo Cimento, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 19 D
1996
-
Elastic strains in GaAs/AlAs quantum dots studied by high resolution. X-ray diffraction
Solid - State Electronics, rok: 1996, ročník: 40(1996), vydání: 1-8
-
High Resolution X-Ray Reciprocal Space Mapping
Acta Physica Polonica A, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 89
-
Interface evolution after thermal treatment of Tungsten/ Silicon multilayers
Acta Crystallographica A, Suppl., rok: 1996, ročník: 52, vydání: -
-
Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers
J. Mag. Materials, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 156
-
Local Surface Deformations Induced by Interfacial Misfit Dislocations in Lattice-mismatched heteroepitaxy of EuTe on PbTe(111)
Surface Science, rok: 1996, ročník: 365(1996), vydání: -