prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 197
2001
-
Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy
Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods, rok: 2001
-
Vliv diskrétní Fourierovy transformace na zpracování AFM dat
Československý časopis pro fyziku, rok: 2001, ročník: 51, vydání: 1
2000
-
Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM
Mikrochim. Acta, rok: 2000, ročník: 132, vydání: 1
-
Analysis of thin films by optical multi-sample methods
Acta Physica Slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4
-
Atomic force microscopy measurements of surface roughness quantities important in optics of surfaces and thin films
Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 2000
-
Ellipsometry of Thin Film Systems
Progress in Optics, Vol. 41 (Ed. E. Wolf), vydání: Vyd. 1, rok: 2000, počet stran: 102 s.
-
Matrix formalism for imperfect thin films
Acta physica slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4
-
Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry
Surface and Interface Analysis, rok: 2000, ročník: 30, vydání: 1
-
Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method
Thin Solid Films, rok: 2000, ročník: 366, vydání: 1
1999
-
Comparison of optical and non-optical methods for measuring surface roughness
Proceedings of SPIE 3820, 11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 1999