prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
1997
-
Analysis of single layers placed on slightly rough surfaces by spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and atomic force microscopy
ECASIA 97 - 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1997
-
Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry
Jemná mechanika a optika, rok: 1997, ročník: 42, vydání: 3
1996
-
Method of shearing interferometry for characterizing non-gaussian randomly rough surfaces
Specification, Production, and Testing of Optical Components and Systems, rok: 1996
-
New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films
Thin Solid Films, rok: 1996, ročník: 279
-
Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition of Thin Films from Tetraethoxysilane and Methanol: Optical Properties and XPS Analyses
Thin Solid Films, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 280
-
Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces Covered by Layers
ECASIA 95 - 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1996
-
Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů
12. konference českých a slovenských fyziků, rok: 1996
1995
-
A method of shearing interferometry for determining the statistical quantities of randomly rough surfaces of solids
Pure Appl. Opt., rok: 1995, ročník: 4, vydání: 5
-
Interferometry of Randomly Rough Surfaces
Photonics '95, rok: 1995
-
Optical analysis by means of spectroscopic reflectometry of single and double layers with correlated randomly rough boundaries
Optical Engineering, rok: 1995, ročník: 34, vydání: 6