prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

2010

• Efficient dealing with spectrum line profiles using complex rational functions

  HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  JOURNAL OF QUANTITATIVE SPECTROSCOPY & RADIATIVE TRANSFER, rok: 2010, ročník: 111, vydání: 11

• Electronic structure of InAs quantum dots with GaAsSb strain reducing layer: Localization of holes and its effect on the optical properties

  KLENOVSKÝ Petr KŘÁPEK Vlastimil MUNZAR Dominik HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 2010, ročník: 97, vydání: 203107

• Modelling of electronic states in InAs/GaAs quantum dots with GaAsSb strain reducing overlayer

  KLENOVSKÝ Petr KŘÁPEK Vlastimil MUNZAR Dominik HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Physics: Conference Series, rok: 2010, ročník: 244, vydání: 012086

• PREPARATION OF NANOCOMPOSITE TITANATE NANOTUBES

  STARMAN Stanislav MATZ Vaclav KVACA Zdenek MOHYLA Martin OLSAK Vladimir KLEMENTOVA Mariana HUMLÍČEK Josef DRSTICKA Michal

  Článek ve sborníku

  NANOCON 2010, 2ND INTERNATIONAL CONFERENCE, rok: 2010

• Size dependence of the dielectric function of silicon-supported plasmonic gold nanoparticles

  LOSURDO Maria GIANGREGORIO Maria M BIANCO Giuseppe V SUVOROVA Alexandra A KONG C. RUBANOV S. CAPEZZUTO Pio HUMLÍČEK Josef BRUNO Giovanni

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2010, ročník: 82, vydání: 15

2009

• Mid-IR plasmonic antennas on silicon-rich oxinitride absorbing substrates: Nonlinear scaling of resonance wavelengths with antenna length

  SIKOLA T. KEKAPTURE R.D. BARNARD E.S. WHITE J.S. VAN DORPE P. BRINEK L. TOMANEC O. ZLAMAL J. LEI D.Y. SONNENFRAUD Y. MAIER S.A. HUMLÍČEK Josef BRONGERSMA M.L.

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 2009, ročník: 95, vydání: 25

• Spectroscopic ellipsometry and polarimetry for materials and systems analysis at the nanometer scale: state-of-the-art, potential, and perspectives

  LOSURDO Maria HEMZAL Dušan BERGMAIR Michael HUMLÍČEK Josef BRUNO Giovanni CATELLAN D. COBET C. DE MARTINO A. FLEISCHER K. DOHCEVIC-MITROVIC Z. ESSER N. GAILLET M. GAJIC R. HEMZAL Dušan HINGERL K. HUMLÍČEK Josef OSSIKOVSKI R. POPOVIC Z.V. SAXL O.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Nanoparticle Research, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 7

• Spectroscopic ellipsometry and polarimetry for materials and systems analysis at the nanometer scale: state-of-the-art, potential, and perspectives

  LOSURDO Maria HEMZAL Dušan BERGMAIR Michael HUMLÍČEK Josef BRUNO Giovanni CATELLAN D. COBET C. DE MARTINO A. FLEISCHER K. DOHCEVIC-MITROVIC Z. ESSER N. GAILLET M. GAJIC R. HEMZAL Dušan HINGERL K. HUMLÍČEK Josef OSSIKOVSKI R. POPOVIC Z.V. SAXL O.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Nanoparticle Research, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 7

2008

• Dynamics of UV degradation of PMPSi in vacuum and in the air using in-situ ellipsometry

  FIKAROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel NEŠPŮREK Stanislav HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5

• In-situ spectroscopic ellipsometry: optimization of monitoring and closed-loop-control procedures

  HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (a), Applied research, rok: 2008, ročník: 205, vydání: 4