|
|
Університет Mасарика
Українська
Čeština
English
Čeština
English
Університет імені Масарика допомагає Україні
:
Masarykova univerzita
Výzkum
Publikace
Simultaneous determination of optical constants, local thickness and roughness of ZnSe thin films by imaging spectroscopic reflectometry
More info
Close