Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment

• Autoři: NEUSCHITZER Markus; MOSER Armin; NEUHOLD Alfred; KRAXNER Johanna; STADLOBER Barbara; OEHZELT Martin; SALZMANN Ingo; RESEL Roland; NOVÁK Jiří
• Rok publikování: 2012
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Journal of Applied Crystallography
• Doi: http://dx.doi.org/10.1107/S0021889812000908