Informace o publikaci

Lattice tilt and strain mapped by X-ray scanning nanodiffraction in compositionally graded SiGe/Si microcrystals

Název česky Mřížkový sklon a deformace mapované rtg skenováním pomocí nanodifrakce v kompozičně gradovaných SiGe/ Si mikrokrystalech
Autoři

MEDUŇA Mojmír ISA Fabio JUNG Arik MARZEGALLI Anna ALBANI Marco ISELLA Giovanni ZWEIACKER Kai MIGLIO Leo VON KÄNEL Hans

Rok publikování 2018
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Journal of Applied Crystallography
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www https://onlinelibrary.wiley.com/iucr/doi/10.1107/S1600576718001450
Doi http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718001450
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova scanning X-ray nanodiffraction; lattice bending; graded SiGe microcrystals; strain relaxation
Popis Skenovací rentgenová nanodifrační technika se používá k rekonstrukci třírozměrné (3D) distribuce mřížové deformace a koncentrace Ge v kompozičně gradovaných mikrokrystalech Si1-xGex epitaxiálně rostlých na pilířích Si.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info