X-ray double and triple crystal diffractometry of silicon crystals with small defects

• Autoři: HOLÝ Václav; KUBĚNA Josef
• Rok publikování: 1993
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Phys. Stat. Sol. (b)
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur