Informace o publikaci

Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging

Název česky Srovnávací studie multivrstev používaných v monochromátorech pro rtg zobrazování pomocí koherentního tvrdého synchrotronového záření
Autoři

RACK A. WEITKAMP T. RIOTTE M. GRIGORIEV D. RACK T. HELFEN L. BAUMBACH T. DIETSCH R. HOLZ T. KRÄMER M. SIEWERT F. MEDUŇA Mojmír CLOETENS P. ZIEGLER E.

Rok publikování 2010
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Journal of Synchrotron Radiation
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova multilayer mirrors; X-rays; X-ray optics; coherence; X-ray monochromators; X-ray imaging; X-ray phase contrast
Popis Byla prezentována systematická studie, ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicitou (od2.5 do 5.5 nm) a počtem vrstev. Konkrétně byly studovány intrinsická kvalita (drsnost a odrazivost) a výkon (koherence a homogenita) vycházejícího paprsku z monochromátoru pro synchrotronové záření při mikrozobrazování tvrdým rtg zářením. Výsledky ukazují, že materiálové složení je dominující faktor pro výkon.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info