Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3836 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 215
2005
-
Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films
Journal of Modern Optics, rok: 2005, ročník: 52, vydání: 4
-
Optical characterization of sol-gel deposited PZT thin films by spectroscopic ellipsometry and reflectometry in near-UV and visible regions
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Optical Characterization of TiO2 Thin Films by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Photometry
Vacuum, rok: 2005, ročník: 80, vydání: 1-3
-
Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films
8-th International Symposium on Laser Metrology, rok: 2005
-
Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films
Diamond and Related Materials, rok: 2005, ročník: 14, vydání: 11-12
2004
-
Complete Characterization of Rough Polymorphous Silicon Films by Atomic Force Microscopy and the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1
-
Characterization of thin oxide films on GaAs substrates by optical methods and atomic force microscopy
Surface and Interface Analysis, rok: 2004, ročník: 36, vydání: 8