Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3836 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 215
2003
-
Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx
Diamond and Related Materials, rok: 2003, ročník: 12, vydání: 9
2002
-
Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method
Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1
-
Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements
Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7
-
Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods
Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1
-
Influence of overlayers on determination of the optical constants of ZnSe thin films
Journal of Applied Physics, rok: 2002, ročník: 92, vydání: 4
-
Optical characterization of diamond like carbon films using multi-sample modification of variable angle spectroscopic ellipsometry
Diamond and Related Materials, rok: 2002, ročník: 11, vydání: 1
-
Optical characterization of thin films non-uniform in thickness by a multiple-wavelength reflectance method
Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1
2001
-
Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy
Surface and Interface Analysis, rok: 2001, ročník: 32, vydání: 1
-
Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation
12th Czech-Slovak-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 2001
-
Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2001, ročník: 3, vydání: 4