|
|
Університет Mасарика
Українська
Čeština
English
Čeština
English
Університет імені Масарика допомагає Україні
:
Masarykova univerzita
Výzkum
Publikace
Optical characterisation of SiOxCyHz thin films non-uniform in thickness using spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and spectroscopic imaging reflectometry
More info
Close