Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3836 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 215
1999
-
Relationship Between AFM and Optical Measurements at Analyzing Surface Roughness
Jemná mechanika a optika, rok: 1999, ročník: 44, vydání: 10
-
The influence of substrate emissivity on plasma enhanced CVD of diamond-like carbon films
Czechoslovak Journal of Physics, rok: 1999, ročník: 49, vydání: 8
1998
-
Analysis of thin films with slightly rough boundaries
Mikrochim. Acta, rok: 1998, ročník: Suppl. 15, vydání: 1
-
Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness
Proceedings of the 3th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 1998
-
Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries
Journal of modern optics, rok: 1998, ročník: 45, vydání: 5
-
Ellipsometry of thin films
Acta Physica Slovaca, rok: 1998, ročník: 48, vydání: 4
-
Rubidium lodide (RbI)
Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 14 s.
-
Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou
Jemná mechanika a optika, rok: 1998, ročník: 43, vydání: 4
-
Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries
Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1
1997
-
Analysis of single layers placed on slightly rough surfaces by spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and atomic force microscopy
ECASIA 97 - 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1997