Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 3836 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 215
2000
-
Analysis of thin films by optical multi-sample methods
Acta Physica Slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4
-
Atomic force microscopy measurements of surface roughness quantities important in optics of surfaces and thin films
Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 2000
-
Ellipsometry of Thin Film Systems
Progress in Optics, Vol. 41 (Ed. E. Wolf), vydání: Vyd. 1, rok: 2000, počet stran: 102 s.
-
Matrix formalism for imperfect thin films
Acta physica slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4
-
Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry
Surface and Interface Analysis, rok: 2000, ročník: 30, vydání: 1
-
Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method
Thin Solid Films, rok: 2000, ročník: 366, vydání: 1
1999
-
Comparison of optical and non-optical methods for measuring surface roughness
Proceedings of SPIE 3820, 11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 1999
-
Complete Optical Characterization of the SiO2/Si System by Spectroscopic Ellipsometry Spectroscopic Reflectometry and Atomic Force Microscopy
Surface and Interface Analysis, rok: 1999, ročník: 28, vydání: 1
-
Determination of the basic parameters characterizing the roughness of metal surfaces by laser light scattering
Journal of modern optics, rok: 1999, ročník: 46, vydání: 2
-
Characterisation of DLC Films Prepared by PECVD
Proceedings of 12th Symposium on Application of Plasma Processes, rok: 1999