Informace o publikaci
Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 2017 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Applied Surface Science |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Doi | http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.08.135 |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | Silicon; Surface layers; Ellipsometry; 1-kg mass standard |
| Popis | Studovali jsme povrchové vrstvy na monokrystalické kouli z n-typu zonálního křemíku ( 2400-2990 Ohm.cm) s průměrem 93.6004 mm. Elipsometrická spektra ve viditelné a ultrafialové oblasti dokumentují přítomnost tenkých vrstev amorfního Si a oxidu křemíku, Připravili jsme rovněž sérii plochých vzorků Si, leštěných pomocí zrn v rozsahu 1-6 mikronů; tyto vzorky byly zkoumány elipsometrickou technikou ve střední infračervené oblasti, včetně oboru poláírních vibrací vazeb Si-O. Modely povrchu koule byly testovány pomocí měření AFM. |
| Související projekty: |