prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
2003
-
New Dispersion Model of the Optical Constants of the DLC Films
Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 5
-
New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters
Japanese Journal of Applied Physics, rok: 2003, ročník: 42, vydání: 7B
-
Optical constants of ZnTe and ZnSe epitaxial thin films
Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2
-
Optical characterization of ZnSe thin films
19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life, rok: 2003
-
Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx
Diamond and Related Materials, rok: 2003, ročník: 12, vydání: 9
-
Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů
Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 47, vydání: 6-7s
-
Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin films
Ultramicroscopy, rok: 2003, ročník: 94, vydání: 1
2002
-
Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method
Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1
-
Aplikace mikroskopie magnetické síly při studiu záznamového prostředí pevných disků
Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7
-
Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements
Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7