Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films

• Autoři: HUMLÍČEK Josef; HABERMEIER M.; KAMARAS K.; CARDONA M.; KIRCHER J.
• Rok publikování: 1993
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Thin Solid Films
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur