Informace o publikaci

Spektrální elipsometrická charakterizace tenkých epitaxních vrstev Si_(1-x)Ge_x

Autoři

LÍBEZNÝ Milan CAYMAX M. BRABLEC Antonín KUBĚNA Josef HOLÝ Václav

Rok publikování 1994
Druh Kapitola v knize
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info