Informace o publikaci

Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry

Autoři

OHLÍDAL Ivan NAVRÁTIL Karel

Rok publikování 1997
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Jemná mechanika a optika
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Optika, masery a lasery

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info