Informace o publikaci

Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů

Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HORA Jaroslav NAVRÁTIL Karel

Rok publikování 1996
Druh Článek ve sborníku
Konference 12. konference českých a slovenských fyziků
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/KCSF96_482.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis V tomto příspěvku ukážeme, že vztahy pro elipsometrické parametry a odrazivost odvozené v rámci námi zobecněné Rayleigh-Riceovy teorie (RRT) mohou být využity pro analýzu tenkých vrstev se slabě drsnými rozhraními.

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info