Zde se nacházíte:
Informace o publikaci
Mechanical properties of amorphous and nanocrystalline silicon thin films on flexible substrates
| Název česky | Mechanické vlastnosti amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev křemíku na flexibilních substrátech |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2005 |
| Druh | Článek ve sborníku |
| Konference | NENAMAT International Conference Proceedings NANO05 |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | Mechanical properties; Amorphous silicon; Nanocrystalline Silicon |
| Popis | DSI technika je jedna z nejvhodnějších metod pro sledování mechanických vlastností tenkých vrstev. Byla použita pro studioum tenkých vrstev amorfního a nanokrystalického křemíku deponovaného na flexibilních substrátech. |
| Související projekty: |