prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

1999

• Diffuse x-ray reflectivity of strain-compensated Si/SiGe/SiC multilayers

  GRIM Jan HOLÝ Václav KUBĚNA Josef STANGL J. DARHUBER A.A. ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  Semicond. Sci. Technol., rok: 1999, ročník: 32(1999), vydání: -

• High-resolution x-ray diffraction on self-organized step bunches of Si_1-xGe_x grown on (113)-oriented Si

  STANGL J. HOLÝ Václav DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr BAUER G. ZHU J. BRUNNER K. ABSTREITER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers

  HOLÝ Václav PIETSCH U. BAUMBACH T.

  Odborná kniha

  Rok: 1999, počet stran: 256 s.

• High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers

  HOLÝ Václav PIETSCH U. BAUMBACH T.

  Odborná kniha

  Rok: 1999, počet stran: 256 s.

• Lateral arrangement of self-assembled quantum dots in an SiGe/Si supertattice

  HOLÝ Václav STANGL J. ZERLAUTH S. BAUER G. DAROWSKI N. LÜBBERT D. PETSCH U.

  Článek v odborném periodiku

  Semicond. Sci. Technol., rok: 1999, ročník: 32(1999), vydání: -

• Self-assembled carbon-induced germanium quantum dots studied by grazing-incidence small-angle x-ray scattering

  STANGL J. HOLÝ Václav MIKULÍK Petr BAUER G. KEGEL I. METZGER T.H. SCHMIDT O.G. LANGE C. EBERL K.

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 1999, ročník: 74, vydání: -

• Self-assembled Germanium-dot multilayers embedded in Silicon

  BAUER G. DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Cryst. Res. Technol., rok: 1999, ročník: 34(1999), vydání: 2

• Strain Induced Vertical and Lateral Correlations in Quantum Dot Superlattices

  HOLÝ Václav SPRINGHOLZ G. PINCZOLITS M. BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review Letters, rok: 1999, ročník: 83(1999), vydání: 2

• Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction

  ZHUANG Y. HOLÝ Václav STANGL J. DARHUBER A.A. MIKULÍK Petr ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G. DAROWSKI N. LÜBBERT D. PIETSCH U.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• Thermal stability of amorphous Nb/Si multilayers studied by x-ray reflection

  BOCHNÍČEK Zdeněk VÁVRA Ivo HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Bulletin Krystalografické společnosti Materials Structure, rok: 1999, ročník: 6, vydání: 1