prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

1998

• X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers

  HOLÝ Václav DARHUBER A.A. STANGL J. BAUER G. NUTZEL J. ABSTREITER G.

  Článek v odborném periodiku

  Semicond. Sci. Technol., rok: 1998, ročník: 13(1998), vydání: -

• X-ray scattering study of interface roughness correlation in Mo/Si and Ti/C multilayers for X-UV optics

  JERGEL M. HOLÝ Václav MAJKOVÁ E. LUBY S. SENDERÁK R. STOCK H.J. MENKE D. KLEINEBERG U. HEINZMANN U.

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 1998, ročník: 253(1998), vydání: -

1997

• Diffuse X-ray reflection from multilayers with stepped interfaces

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1997, ročník: (55)1997, vydání: 15

• Diffuse x-ray scattering from epitaxial thin layers

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Surface Investigation, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 12

• Göbelovo parabolické zrcadlo - naše zkušenosti. (Goebel mirror - our opinniens)

  KUBĚNA Josef HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Materials Structure, rok: 1997, ročník: (4)1997, vydání: 3

• High resolution X-ray diffraction and reflectivity studies f vertical and lateral ordering in multiple self-organized InGaAs quantum dots

  DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Jpn.J.Appl.Phys., rok: 1997, ročník: 36(1997), vydání: 6B

• High-resolution X-ray diffraction from multilayered self-assembled Ge dots

  DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1997, ročník: (55)1997, vydání: 23

• Interface study of W/Si multilayers with increasing number of periods

  JERGEL M. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  II Nuovo Cimento, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 19 D

• Lateral and vertical ordering in multilayered self-organized InGaAs quantum dots studied by high resolution X-ray diffraction

  DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl.Phys. Lett., rok: 1997, ročník: (70)1997, vydání: 8

• MBE Growth and Structural Characterization of SiC/SiGe Superlattices

  ZERLAUTH S. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Cryst. Growth, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 175