Informace o publikaci

Treatment of Surface Plasmon Resonance (SPR) Background in Total Internal Reflection Ellipsometry: Characterization of RNA Polymerase II Film Formation

Autoři

HEMZAL Dušan KANG Yu Ri DVOŘÁK Jan KABZINSKI Tomasz KUBÍČEK Karel YOUNG DONG Kim HUMLÍČEK Josef

Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Appl. Spectrosc
Citace