Interface study of W-Si/Si and obliquely deposided W/Si multilayers by grazing-incidence high-resolution x-ray diffraction

• Autoři: JERGEL M.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1995
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: J. Phys. D: Appl. Phys.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur