prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
1999
-
Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie
Jemná mechanika a optika, rok: 1999, ročník: 1999, vydání: 2
1998
-
Analysis of thin films with slightly rough boundaries
Mikrochim. Acta, rok: 1998, ročník: Suppl. 15, vydání: 1
-
Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness
Proceedings of the 3th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 1998
-
Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries
Journal of modern optics, rok: 1998, ročník: 45, vydání: 5
-
Ellipsometry of thin films
Acta Physica Slovaca, rok: 1998, ročník: 48, vydání: 4
-
Optical parameter analysis of thin absorbing films measured by the photovoltage method
Acta physica polonica A, rok: 1998, ročník: 94, vydání: 3
-
Rubidium Bromide (RbBr)
Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 11 s.
-
Rubidium lodide (RbI)
Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 14 s.
-
Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou
Jemná mechanika a optika, rok: 1998, ročník: 43, vydání: 4
-
Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries
Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1