Informace o publikaci

Lattice constants and optical response of pseudomorph Si-rich SiGe:B

Název česky Mřížkové parametry a optická odezva pseudomorfní slitiny SiGe:B
Autoři

CAHA Ondřej KOSTELNÍK P. ŠIK Jan KIM Y.D. HUMLÍČEK Josef

Rok publikování 2013
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Applied Physics Letters
Fakulta / Pracoviště MU

Středoevropský technologický institut

Citace
Doi http://dx.doi.org/10.1063/1.4830367
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova silicon; SiGe alloys; heavy doping
Popis Pseudomorní epitaxní vrstvy Si1-xGex:B byly připraveny na nedopovaném (100) Si pro x<0.026 a koncentraci B 1.3E20 cm-3. Mřížkové konstanty v rovině vrstvy a kolmo na ni byly určeny pomocí symetrické rtg difrakce 004 a asymetrické difrakce 224. Vliv dopingu B a Ge byl detekován v reflexních a elipsometrických spektrech v oblasti IR-UV. Byla pozorována odezva plasmatu volných děr a Fanova rezonance fononů Si a lokalizovaných vibrací 11B a 10B. Spektrální posuv přechodů E1 byl kvantifikován. Našli jsme jednoduchou možnost testu změn obsahu Ge užitím spekter relativní reflektance.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info