X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers

• Autoři: HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1994
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: J. Appl. Cryst.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur