High resolution x-ray triple axis diffractometry of short period Si m Ge n superlattices

• Autoři: KOPPENSTEINER E.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1994
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Jpn. J. Appl. Phys.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur