X-ray reflectivity and diffuse scattering study of thermally treated XSi/Si multilayers

• Autoři: JERGEL M.; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 1996
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Mater. Sci. Forum
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur