Informace o publikaci
Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1998 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Thin Solid Films |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Klíčová slova | ellipsometry |