Informace o publikaci
X-ray multiple-beam analysis in high-resolution diffractometry of III-V heterostructures
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1998 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Journal of Applied Crystallography |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |