Ellipsometry of Thin Film Systems

• Autoři: OHLÍDAL Ivan; FRANTA Daniel
• Rok publikování: 2000
• Druh: Kapitola v knize
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Popis: In this paper, a review of both the important theoretical and experimental results concerning ellipsometry is presented.

Související projekty

• Společné laboratoře pro aplikovanou fyziku plazmatu a plazmovou chemii na PřF a PedF MU, VA v Brně a ÚFP AV ČR v Praze
• Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod