Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction

• Autoři: ROCH Tomáš; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 2002
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Physical Review B
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction
• Popis: Strain in buried self-assembled SiGe wires studied by grazing-incidence x-ray diffraction

Související projekty

• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur