X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires

• Autoři: HOLÝ Václav
• Rok publikování: 2003
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
• Popis: X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires

Související projekty

• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur