Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
výzkumný pracovník II – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 07/02012
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
| telefon: | 549 49 3836 |
|---|---|
| e‑mail: |
| sociální a akademické sítě: |
|---|
Počet publikací: 219
2011
-
Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI
-
Combination of Synchrotron Ellipsometry and Table-Top Optical Measurements for Determination of Band Structure of DLC Films
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI
-
Dielectric response and structure of amorphous hydrogenated carbon films with nitrogen admixture
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 13, DOI
-
Ellipsometric characterisation of thin films non-uniform in thickness
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI
-
INFLUENCE OF PLASMA DEPOSITION PARAMETERS ON INCORPORATION OF HYDROGEN OR NITROGEN INTO DLC
Rok: 2011, druh: Konferenční abstrakty
-
Mechanical Properties of Ultrananocrystalline Thin Films Deposited Using Dual Frequency Discharges
CHEMICKÉ LISTY, rok: 2011, ročník: 105, vydání: CHLSAC 105
-
Multilayered films based on DLC, DLC:N and SiOx grown by PECVD on stainless steel
Rok: 2011, druh: Konferenční abstrakty
-
Optical characterisation of SiOxCyHz thin films non-uniform in thickness using spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and spectroscopic imaging reflectometry
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI
-
Optical characterization of HfO2 thin films
Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 18, DOI
-
Variable-angle spectroscopic ellipsometry of considerably non-uniform thin films
Journal of Optics, rok: 2011, ročník: 13, vydání: 8, DOI