prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2014

• Utilization of the sum rule for construction of advanced dispersion model of crystalline silicon containing interstitial oxygen

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: november, DOI

2013

• Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan STUCHLÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 541, vydání: Aug, DOI

• Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan STUCHLÍK Jiří CHVOSTOVA Dagmar

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2013, ročník: 539, vydání: Jul, DOI

• Ellipsometric characterization of inhomogeneous non-stoichiometric silicon nitride films

  NEČAS David FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan PORUBA Aleš WOSTRÝ Petr

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2013, ročník: 45, vydání: 7, DOI

2011

• Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI

• Ellipsometric characterisation of thin films non-uniform in thickness

  NEČAS David FRANTA Daniel BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI

• Measurement of the thickness distribution and optical constants of non-uniform thin films

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEČAS David MAJUMDAR Abhijit

  Článek v odborném periodiku

  Measurement Science and Technology, rok: 2011, ročník: 22, vydání: 8, DOI

• Optical characterisation of SiOxCyHz thin films non-uniform in thickness using spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and spectroscopic imaging reflectometry

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav NEČAS David FRANTA Daniel BURŠÍKOVÁ Vilma

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 9, DOI

• Optical characterization of HfO2 thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan NEČAS David VIŽĎA František CAHA Ondřej HASOŇ Martin POKORNÝ Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2011, ročník: 519, vydání: 18, DOI

• Variable-angle spectroscopic ellipsometry of considerably non-uniform thin films

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics, rok: 2011, ročník: 13, vydání: 8, DOI