prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2015

• Simultaneous determination of optical constants, local thickness, and local roughness of thin films by imaging spectroscopic reflectometry

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan VODÁK Jiří OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Systems Design - Optical Fabrication, Testing, and Metrology V, rok: 2015

• Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to hafnia

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Optics, rok: 2015, ročník: 54, vydání: 31, DOI

• Wide spectral range characterization of antireflective coatings and their optimization

  FRANTA Daniel NEČAS David OHLÍDAL Ivan JANKUJ Jiří

  Článek ve sborníku

  Conference on Optical Systems Design - Optical Fabrication, Testing, and Metrology V, rok: 2015

2014

• Antireflexní vrstva z materiálů Al2O3/SiO2 pro hlubokou ultrafialovou (DUV) oblast spektra na vlnové délce 266nm

  BŘEZINA Jaromír OHLÍDAL Ivan

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2014

• Assessment of non-uniform thin films using spectroscopic ellipsometry and imaging spectroscopic reflectometry

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel ČUDEK Vladimír OHLÍDAL Miloslav VODÁK Jiří SLÁDKOVÁ Lucia ZAJÍČKOVÁ Lenka ELIÁŠ Marek VIZĎA František

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: november, DOI

• Broadening of dielectric response and sum rule conservation

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: November, DOI

• Consolidated series for efficient calculation of the reflection and transmission in rough multilayers

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2014, ročník: 22, vydání: 4, DOI

• Dispersion model of two-phonon absorption: application to c-Si

  FRANTA Daniel NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  OPTICAL MATERIALS EXPRESS, rok: 2014, ročník: 4, vydání: 8, DOI

• Improved combination of scalar diffraction theory and Rayleigh-Rice theory and its application to spectroscopic ellipsometry of randomly rough surfaces

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2014, ročník: 571, vydání: November, DOI

• Measurement of thickness distribution, optical constants, and roughness parameters of rough nonuniform ZnSe thin films

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav ČUDEK Vladimír VODÁK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Applied Optics, rok: 2014, ročník: 53, vydání: 25, DOI