Informace o publikaci
Stanovení velikosti krystalitů - metodika a aplikace v praxi
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 2013 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Keramický zpravodaj |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Geologie a mineralogie |
| Klíčová slova | XRD, crystallites, Scherrer equation, Rietveld method |
| Popis | Příspěvek představuje metodiku stanovení rozměrů koherentních domén krystalových struktur vycházející ze Scherrerovy rovnice. Jako příklad bylo vybráno srovnání výsledků studia vzorků vápna dosažených rtg-difraktometrickými analýzami (XRD) se snímky reálné morfologie vzorků pořízenými v sekundárních elektronech (SE) pomocí skenovacího elektronového mikrorskopu (SEM). Možná aplikace v praxi je dále demonstrována na několika příkladech |