Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

• Autoři: HOLÝ Václav; MEDUŇA Mojmír; ROCH Tomáš; BAUER Guenther
• Rok publikování: 2002
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Semicond. Sci. Technol.
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
• Popis: Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Související projekty

• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur