prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
| telefon: | 549 49 4360 |
|---|
| sociální a akademické sítě: |
|---|
Počet publikací: 213
1996
-
Many crystal x-ray diffractometry on superlattices
Heterostructure Epitaxy and Devices. NATO ASI Series 3. Kluwer Acad. Publl. Dordrecht (D4), rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 11
-
Quantitative analysis of elastic strains in GaAs/AlAs quantum dots
Physica B, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 227
-
Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy
Appl. Phys. Lett., rok: 1996, ročník: 69(19960, vydání: 9
-
Scanning-tunneling-microscopy Observation of Stress-driven Surface Diffusion Due to Localized Strain Fields of Misfit Dislocations in Heteroepitaxy
Physical Review B, rok: 1996, ročník: 54(1996), vydání: -
-
Structural characterization of reactive ion-etched semicond uctor nanostructures using x-ray reciprocal space mapping
Mat. Res. Soc. Symp. Proc., rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 405
-
Theoretical description of multiple crystal arrangements
X-ray and neutron dynamical diffraction: theory and applications, rok: 1996
-
Thermal Stability of SIS Tunnel Junction with Silicon Barrier
Czechoslovak Journal of Physic, Suppl. S2, rok: 1996, ročník: 46(1996), vydání: S2
-
X-ray and neutron diffuse scattering from multilayers of fatty acid salt molecules
Physica B, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 221
-
X-ray reflectivity and diffuse scattering study of thermally treated XSi/Si multilayers
Mater. Sci. Forum, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 228-231
-
X-ray studies of surfaces and interfaces
Bulletin Krystalografické společnosti Materials Structure, rok: 1996, ročník: 3, vydání: 3