prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2019

• Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Electrical Engineering, rok: 2019, ročník: 70, vydání: 7, DOI

2018

• Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region

  FRANTA Daniel FRANTA Pavel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2018, ročník: 123, vydání: 18, DOI

• Different theoretical approaches at optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered with native oxide layers

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří MISTRÍK Jan ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2018, ročník: 50, vydání: 11, DOI

• Ellipsometry of Layered Systems

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Kapitola v knize

  Optical Characterization of Thin Solid Films, rok: 2018, počet stran: 35 s.

• Optical Characterization of Thin Films Exhibiting Defects

  OHLÍDAL Ivan ČERMÁK Martin VOHÁNKA Jiří

  Kapitola v knize

  Optical Characterization of Thin Solid Films, rok: 2018, počet stran: 43 s.

• Optical quantities of multi-layer systems with randomly rough boundaries calculated using the exact approach of the Rayleigh–Rice theory

  ČERMÁK Martin VOHÁNKA Jiří OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of modern optics, rok: 2018, ročník: 65, vydání: 14, DOI

• Use of the Richardson extrapolation in optics of inhomogeneous layers: Application to optical characterization

  VOHÁNKA Jiří OHLÍDAL Ivan ŽENÍŠEK Jaroslav VAŠINA Petr ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2018, ročník: 50, vydání: 7, DOI

2017

• Determination of local thickness values of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometer with enhanced spatial resolution

  VODÁK Jiří NEČAS David OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Measurement Science and Technology, rok: 2017, ročník: 28, vydání: 2, DOI

• Dispersion models describing interband electronic transitions combining Tauc's law and Lorentz model

  FRANTA Daniel ČERMÁK Martin VOHÁNKA Jiří OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2017, ročník: 631, vydání: June, DOI

• Ellipsometric and reflectometric characterization of thin films exhibiting thickness non-uniformity and boundary roughness

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2017, ročník: 421, vydání: November, DOI