prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
2021
-
Optics of Inhomogeneous Thin Films with Defects: Application to Optical Characterization
Coatings, rok: 2021, ročník: 11, vydání: 1, DOI
-
Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45.
Rok: 2021
2020
-
Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.
Rok: 2020
-
Determining shape of thickness non-uniformity using variable-angle spectroscopic ellipsometry
Applied Surface Science, rok: 2020, ročník: 534, vydání: December 2020, DOI
-
Ellipsometric characterization of highly non-uniform thin films with the shape of thickness non-uniformity modeled by polynomials
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 4, DOI
-
Ellipsometric characterization of inhomogeneous thin films with complicated thickness non-uniformity: application to inhomogeneous polymer-like thin films
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 24, DOI
-
Optical quantities of a multilayer system with randomly rough boundaries and uniaxial anisotropic media calculated using the Rayleigh-Rice theory and Yeh matrix formalism
Physica Scripta, rok: 2020, ročník: 95, vydání: 9, DOI
-
Spectroscopic ellipsometry of inhomogeneous thin films exhibiting thickness non-uniformity and transition layers
Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 1, DOI
2019
-
Approximate methods for the optical characterization of inhomogeneous thin films: Applications to silicon nitride films
Journal of Electrical Engineering, rok: 2019, ročník: 70, vydání: 7, DOI
-
Approximations of reflection and transmission coefficients of inhomogeneous thin films based on multiple-beam interference model
Thin Solid Films, rok: 2019, ročník: 692, vydání: 31 December 2019, DOI